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標準(zhun)延遲線(xian)探(tan)測器 (DLD) 已(yi)經結合了廣泛的應用。與其他技術（例如象限陽極、電(dian)阻屏陽極、CCD 相機）相比，延遲線(xian)技術的限制(zhi)要少得多。沒(mei)有其他技術能夠提(ti)供如此廣泛的參數，如高粒子(zi)(zi)率、高位置分辨率和低(di)死(si)區時間。借(jie)助 RoentDek HEX 探(tan)測器，延遲線(xian)技術已(yi)達(da)到新的水(shui)平。從(cong)歷(li)史(shi)上看，它們是為同時和無死(si)區時間檢測多個電(dian)子(zi)(zi)而開發的。到目前為止(zhi)，沒(mei)有其他探(tan)測器概念在具有零死(si)區的多重命中性能方面接近。
RoentDek HEX 探測器(qi)有各種尺寸，從(cong) 40 毫米有效(xiao)面積(ji)到 120 毫米有效(xiao)直徑 - 既可以作為單個設(she)備(bei)，也可以作為完整系統的一(yi)部分，其中包括(kuo)一(yi)整套(tao)所需(xu)的電子設(she)備(bei)和完整的軟件(jian)解決方案（包括(kuo)對 LabView 的支持）。
RoentDek 始終專注于多粒子檢測(ce)（例如，記(ji)錄完整分子碎(sui)片所需的(de)檢測(ce)）。硬件和(he)軟件中的(de)死(si)區時間（min）和(he)多次命中能力是我(wo)們理念的(de)基本部分。
- 多粒子檢測。
- 零死區時間（如果粒子間隔至少 10 毫米）。
- 改進的圖像線性。
- 對實現的位置分辨率進行內在診斷在線控制。
- 可提供中心孔。
產地：德國
設計：3 層
粒子速率：超過 1 MHz
檢測：多粒子
absolute檢測(ce)效率：81%
位(wei)置分辨率：17 至 45 µm（RMS）
定時TOF分辨率：25 至 100 ps（RMS）
有效面積：40 毫米(mi)
有效直徑：120 毫米
探測(ce)類型(xing)：標準延(yan)遲線(xian)
死區時間：零
原子/分子物理學
動量光譜（例(li)如 COLTRIMS 反應顯(xian)微鏡）
激(ji)光和同步加速器(qi)測量
VMI
與其他探測(ce)器的巧合測(ce)量(liang)
