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Applied Diamond金剛石探測器AD1

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產品介紹

金(jin)剛(gang)石的優越(yue)性(xing)能對(dui)于當今(jin)的第三(san)代和(he)第四代光源以(yi)及在(zai)高能物理應(ying)用中檢測(ce)(ce)小電(dian)離(li)粒子(zi)(zi)非常(chang)有效(xiao),在(zai)這些(xie)應(ying)用中探(tan)測(ce)(ce)器(qi)會暴露在(zai)高劑量的輻(fu)射下(xia)。位(wei)置(zhi)敏感金(jin)剛(gang)石探(tan)測(ce)(ce)器(qi)滿足核物理中由多(duo)種離(li)子(zi)(zi)組成的重(zhong)離(li)子(zi)(zi)束的準確飛(fei)行時間(jian)測(ce)(ce)量要求。探(tan)測(ce)(ce)器(qi)有多(duo)種封裝可供選擇(ze),包括BMC/SMA和(he)TNC。

性能特點
  • 非常高的熱導率。
  • 高達 2000 W/mK。
  • 大帶隙(45 eV),漏電流低。
  • 高電子空穴遷移率,信號響應快速。
  • 很強的耐惡劣環境能力。
  • 低的漏電流可在室溫下運行。
  • 高的抗輻射能力可延長使用壽命。

更大(da)的活性(xing)金(jin)剛石面積,更低的成本(ben)。

技術參數

產地:美國

金剛石板(ban):單(dan)晶(jing)、多晶(jing)

SC電子尺寸:4 平方毫米

聚合物電子尺寸:2 平方厘米

標準厚度:50/100 um

500 um

表面(mian)光潔(jie)度(du):聚(ju)合物 <5 nm Ra

Sc <2 nm Ra

材料(liao)類型(xing):SC、聚合物、HP/HT

光學級、電子級

光刻:圖案和條帶

檢(jian)測對象:小電離粒子(zi)

帶隙:5.45 eV

封(feng)裝:BMC/SMA和TNC

產品參數

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