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VT750是用于生產、質量檢驗(yan)和(he)計量實驗(yan)室環境的干涉(she)儀塔。此(ci)外，還提供“tower only”版本“B”，用于集成現有或第三方干涉(she)儀單元，或配備ZYGO Verifire和(he)ZYGO MX條(tiao)紋分析軟件的版本“Z”。該(gai)系(xi)統可以(yi)(yi)配備PC桌、2個屏幕、鼠標和(he)鍵盤，也(ye)可以(yi)(yi)配備內置PC和(he)觸(chu)摸面(mian)板，以(yi)(yi)優化操作(zuo)并更(geng)大限(xian)度地減少生產環境中(zhong)的空(kong)間需求。
- 天然花崗巖柱具有非常平坦和準確的導向表面，便于使用，可以非常準確地測量光學元件的曲率半徑
- 高精度和準確的線性標尺，具有高的分辨率，直接與條紋分析軟件連接
- 測量臺在空氣軸承滑塊上平衡和導向，便于快速、簡單、準確地設置和移動
- 占地面積小，價值非凡，結合高精度和剛性，免維護設計
- 堅固的減振系統，非常適合工業生產環境
- XONOX X-fiz 100（4英寸）或X-fiz 130（5.2英寸）高性能斐索干涉儀，可電子控制光學變焦（1x至10x）、聚焦和對比度
- 創新、強大、用戶友好的條紋分析系統X-fringe²，具有不同的智能和智能模式，可適應各種應用
- 從具有靜態條紋分析的低成本“ST”版本到高性能“PS2”相移版本進行選擇
VT750 ST：配備XONOX X-fiz 100（4英寸）/X-fiz 130（5.2英寸），帶10倍光學變焦(jiao)和(he)靜(jing)態條(tiao)紋分析(xi)系(xi)統(tong)XONOX“X-fringe ST”
VT750 PS2：配備XONOX X-fiz 100（4英寸(cun)）/X-fiz 130（5.2英寸(cun)），帶10倍光學(xue)變焦，相移條紋分析系統XONOX“X-frige²”和(he)壓電移相器XONOX”X-phase PMR“
VT750 Z：帶ZYGO Verifire 4“或6”干涉儀單元和Mx相移條紋分析
VT750 B：用于(yu)集成現有干涉儀單元的“tower only”版本。
可選(xuan)配XONOX條紋分析系統(tong)X-fringe²ST或(huo)帶X相(xiang)PMR移相(xiang)器的X-fridge²PS。
產地：美國
行(xing)程范圍：max.750mm（800mm線性(xing)刻度范圍）
測試直徑(jing)：max.200mm（取決于使用(yong)的TS和零(ling)件(jian)支(zhi)架）
測量系(xi)統(tong)(tong)：帶(dai)PC接口和溫度擴展補償功能的增量高精度線性測量系(xi)統(tong)(tong)（標準）/可選(xuan)激光放電(dian)測量系(xi)統(tong)(tong)（可選(xuan)）
測量精度：20°C時(shi)每(mei)500mm高達+/-0.7μm
分辨(bian)率：高達(da)0.1µm（標準(zhun)0.5µm）
尺寸(cun)（寬x深(shen)x高）：800 x 900 x 2100 mm
（如果使用PC進(jin)行(xing)條紋分析，則(ze)需要額外的空間，XONOX PC臺可選）
連接：10-240V/50-60Hz
壓縮空氣：6bar
重量：約500kg
顏色：淺灰(hui)色RAL 7035
