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maxLIGHT 采用(yong)無縫設計，可(ke)提(ti)供光(guang)(guang)(guang)收集(ji)量(liang)和業內高(gao)(gao)效率。經像差(cha)校正的平場波長(chang)覆蓋(gai)范圍從(cong) 1nm 到(dao) 200nm，光(guang)(guang)(guang)譜帶寬寬廣，例(li)如每(mei)個光(guang)(guang)(guang)柵可(ke)覆蓋(gai) 5-80nm 的波長(chang)。maxLIGHT 具(ju)有集(ji)成的狹縫支(zhi)架和濾光(guang)(guang)(guang)片插入裝置，以(yi)及(ji)電動光(guang)(guang)(guang)柵定(ding)位裝置。檢測器選項(xiang)包括用(yong)于(yu)高(gao)(gao)分(fen)辨率和動態(tai)范圍的 XUV CCD，以(yi)及(ji)用(yong)于(yu)寬波長(chang)覆蓋(gai)范圍和門控/增強(qiang)檢測的 MCP/CMOS 檢測器。采用(yong)直接光(guang)(guang)(guang)源成像。因(yin)此，無需(xu)狹窄的入口狹縫，可(ke)大限度(du)地收集(ji)光(guang)(guang)(guang)線。與傳統的光(guang)(guang)(guang)譜儀結(jie)構相比，到(dao)達光(guang)(guang)(guang)譜儀探(tan)測器的光(guang)(guang)(guang)量(liang)增加了 20 倍。這種(zhong)結(jie)構還大大提(ti)高(gao)(gao)了日常運行的穩定(ding)性。
平場掠入射光譜儀
采用專(zhuan)有(you)的無狹縫設計，效率高
波長(chang)范圍從 1 nm到 200 nm
集成示波器
模塊化交鑰匙設計
無磁、旋轉幾何、偏振(zhen)等
產地：德國
拓撲結構：像(xiang)差校正平(ping)場光(guang)譜儀(yi)和光(guang)束輪廓儀(yi)
光源距離：靈活
探測器(qi)：CCD 或 MCP/CMOS
工作壓力：<10-6 mbar（提供 UHV 版本）
無縫技術：是
入口狹縫：可選
光柵定位：電動閉環
光譜濾波器插入單元：是
控制接口：USB 或以太網
軟件：Windows UI 和 Labview/VB/C/C++ SDK
可定制：完全可定制
波長范圍：1-20 nm
色散：0.2-0.4 nm/mm
分(fen)辨(bian)率：在(zai) 10 nm處(chu) <0.015 nm
高次諧波發生源、阿秒科學、強激光(guang)(guang)物質相互作用、自由電子激光(guang)(guang)器(qi)(qi)、激光(guang)(guang)和放電產生的等(deng)離子體源、X 射線激光(guang)(guang)器(qi)(qi)、激光(guang)(guang)驅動(dong)的二次光(guang)(guang)源
