Amptek將(jiang)硅片制造(zao)引入內部，并改進了工藝。其結果(guo)是探測器(qi)具有更(geng)(geng)低的噪(zao)聲、更(geng)(geng)低的泄漏(lou)電流、更(geng)(geng)好的電荷收集以及(ji)探測器(qi)之間的均(jun)勻性(xing)。這使(shi)其成為性(xing)能更(geng)(geng)好的硅漂移(yi)探測器(qi)。

FAST SDD代表Amptek高性能的硅漂移檢(jian)測器（SDD），能夠在保持(chi)分辨率的同時(shi)，計(ji)數率超(chao)過1000000 CPS（每(mei)秒(miao)計(ji)數）。FAST SDD還可與C系列(lie)（Si3N4）低能窗一起使用，用于軟x射線分析。

與(yu)傳(chuan)統(tong)(tong)SDD不同，FAST SDD在(zai)密封的(de)(de)(de)(de)TO-8封裝內使用(yong)結(jie)柵場效應晶(jing)體(ti)(ti)管（JFET）和外(wai)部前置(zhi)放(fang)大(da)器(qi)，在(zai)TO-8封裝內部使用(yong)互(hu)補的(de)(de)(de)(de)金屬(shu)氧化物(wu)半導體(ti)(ti)（CMOS）前置(zhi)放(fang)大(da)器(qi)，并(bing)用(yong)金屬(shu)氧化物(wu)半導體(ti)(ti)場效應管（MOSFET）代(dai)替(ti)JFET。這降(jiang)低(di)了(le)電(dian)容，提(ti)供了(le)更(geng)(geng)低(di)的(de)(de)(de)(de)串聯噪聲，并(bing)在(zai)極短的(de)(de)(de)(de)峰(feng)值時間(jian)內提(ti)高(gao)了(le)分辨率(lv)(lv)(lv)。FAST SDD使用(yong)相同的(de)(de)(de)(de)檢測(ce)器(qi)，但前置(zhi)放(fang)大(da)器(qi)在(zai)短峰(feng)值時間(jian)內提(ti)供較低(di)的(de)(de)(de)(de)噪聲。改進的(de)(de)(de)(de)（較低(di)的(de)(de)(de)(de)）分辨率(lv)(lv)(lv)能(neng)夠(gou)隔離(li)/分離(li)具有(you)接(jie)近能(neng)量(liang)值的(de)(de)(de)(de)熒光(guang)X射(she)線，否(fou)則(ze)峰(feng)值將(jiang)重疊，從而(er)允(yun)許用(yong)戶更(geng)(geng)好(hao)地識別其樣品中的(de)(de)(de)(de)所有(you)元素。峰(feng)值時間(jian)短也會提(ti)高(gao)計數(shu)(shu)率(lv)(lv)(lv)；更(geng)(geng)多的(de)(de)(de)(de)計數(shu)(shu)提(ti)供更(geng)(geng)好(hao)的(de)(de)(de)(de)統(tong)(tong)計數(shu)(shu)據。

• 25 mm²的活動面積校準為17 mm²
• 也可提供70 mm²準直至50 mm²
• 9 keV時的122 eV FWHM分辨率
• 計數率>1000000 CPS
• 高峰值與背景比–26000/1
• 前置放大器輸出上升時間<35 ns
• 窗口：Be（5密耳）12.5µm，或C系列（Si3N4）
• 抗輻射
• 探測器厚度500µm
• TO-8包裝
• 冷卻ΔT>85 K
• 多層準直器

• 探測器類型：帶CMOS前置放大器的硅漂移檢測器（SDD）
• 探測器尺寸：25 mm²-校準至17 mm²，也可提供70mm²-準直至50mm²
• 硅厚度：500µm或1000um可用
• 準直器內部：多層準直器（ML）
• 4µs峰值時間下5.9 keV（55Fe）：122-129 eV FWHM時的能量分辨率（保證）
• 峰值與背景：20000:1（計數比從5.9 keV到1 keV）（典型）
• 探測器窗口選項：鈹（Be）：0.5密耳（12.5µm）或0.3密耳（8µm），C系列（Si3N4）低能耗窗戶
• 電荷敏感型前置放大器：CMOS
• 增益穩定性：<20 ppm/°C（典型）
• 總功率：<2瓦
• 設備壽命：通常為5至10年，具體取決于使用情況
• 操作條件：-35°C至+80°C
• 長期儲存：在干燥環境中儲存10年以上
• 典型儲存和運輸：-40°C至+85°C，濕度10至90%，不凝結
• 產地：美國

-尺寸

• 探測器模塊：TO-8封裝（0.640英寸高，包括銷，0.600英寸直徑）
• XR100盒：3.00 x 1.75 x 1.13英寸（7.6 x 4.4 x 2.9厘米）
• X-123箱：3.94 x 2.67 x 1.0英寸（10.0 x 6.78 x 2.54厘米）
• 原始設備制造商：配置各不相同

-重量

• 探測器模塊：0.14箱（4.1克）
• XR100盒：4.4盎司（125克）
• X-123箱：6.3盎司（180克）
• 原始設備制造商：配置各不相同

• 超快速臺式和手持式XRF分析儀
• 作為EDS系統的一部分，在SEM中掃描/繪制樣品
• 在線過程控制
• X射線分揀機
• OEM