由于多種原因，SWIR成(cheng)(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)（短波長紅(hong)外）是監視電(dian)光成(cheng)(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)重要組成(cheng)(cheng)部分。首先(xian)，InGaAs技術的(de)(de)(de)(de)(de)進步使(shi)(shi)(shi)設計成(cheng)(cheng)本相(xiang)對較低的(de)(de)(de)(de)(de)SWIR成(cheng)(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)器(qi)成(cheng)(cheng)為(wei)可能。其次，InGaAs成(cheng)(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)非常靈(ling)敏，即(ji)使(shi)(shi)(shi)在(zai)漆黑的(de)(de)(de)(de)(de)夜晚(wan)也可以(yi)生(sheng)成(cheng)(cheng)觀(guan)察(cha)(cha)到的(de)(de)(de)(de)(de)風(feng)景圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)。第三，與在(zai)可見(jian)/近紅(hong)外波段工作的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)視攝(she)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)機(ji)(ji)相(xiang)比(bi)，SWIR成(cheng)(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)更不容(rong)易受(shou)到惡劣的(de)(de)(de)(de)(de)大氣條件的(de)(de)(de)(de)(de)影響。第四(si)，即(ji)使(shi)(shi)(shi)使(shi)(shi)(shi)用(yong)(yong)比(bi)用(yong)(yong)于熱(re)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)設計的(de)(de)(de)(de)(de)光學器(qi)件小(xiao)得(de)多的(de)(de)(de)(de)(de)光學元件構建，SWIR成(cheng)(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)器(qi)也可以(yi)生(sheng)成(cheng)(cheng)高分辨率圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)。 SWIR成(cheng)(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)器(qi)通常使(shi)(shi)(shi)用(yong)(yong)觀(guan)察(cha)(cha)到的(de)(de)(de)(de)(de)目標(biao)反射的(de)(de)(de)(de)(de)輻射來創建這些目標(biao)的(de)(de)(de)(de)(de)圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)，類似于電(dian)視攝(she)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)機(ji)(ji)。 SWIR成(cheng)(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)還可以(yi)使(shi)(shi)(shi)用(yong)(yong)觀(guan)察(cha)(cha)到的(de)(de)(de)(de)(de)目標(biao)發出的(de)(de)(de)(de)(de)熱(re)輻射來創建這些目標(biao)的(de)(de)(de)(de)(de)圖(tu)(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)，例(li)如熱(re)成(cheng)(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)。由于具(ju)有這些功能，可以(yi)使(shi)(shi)(shi)用(yong)(yong)測試電(dian)視攝(she)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)機(ji)(ji)的(de)(de)(de)(de)(de)方法或測試熱(re)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)方法來測試SWIR。 InGaAs FPA的(de)(de)(de)(de)(de)參(can)數也可用(yong)(yong)于表(biao)征SWIR成(cheng)(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)儀(yi)。

Inframet建(jian)議通過以下三種(zhong)方式(shi)來表征SWIR成(cheng)像(xiang)(xiang)儀：a）測(ce)量電視攝像(xiang)(xiang)機(ji)的(de)典型參數(shu)（分(fen)(fen)辨(bian)率，最小可分(fen)(fen)辨(bian)對(dui)比(bi)度(du)，MTF，失(shi)真(zhen)，FOV，靈敏度(du)，SNR，等效噪(zao)聲輸入，固定(ding)模式(shi)噪(zao)聲，不均(jun)勻(yun)性），b）測(ce)量熱成(cheng)像(xiang)(xiang)儀的(de)典型參數(shu)（MRT，MDT，MTF，NETD，FPN，不均(jun)勻(yun)性，畸變，FOV），c）測(ce)量InGaAs FPA模塊的(de)參數(shu)（平均(jun)檢測(ce)度(du)，等效噪(zao)聲輻(fu)照度(du)，動態范圍）。

ST測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)系統通常(chang)是可變目(mu)標測(ce)(ce)(ce)(ce)量系統，它使用(yong)一系列不同(tong)的(de)(de)目(mu)標將其(qi)圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)投(tou)影到測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)的(de)(de)SWIR成(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)器(qi)的(de)(de)方(fang)向。成(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)器(qi)會生(sheng)成(cheng)投(tou)影圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)的(de)(de)變形副本。成(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)儀生(sheng)成(cheng)的(de)(de)圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)的(de)(de)質量由(you)觀(guan)察員或(huo)軟件(jian)進行評估，并測(ce)(ce)(ce)(ce)量SWIR成(cheng)像(xiang)(xiang)(xiang)儀的(de)(de)重(zhong)要(yao)特(te)性。ST測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)系統由(you)反射式(shi)離軸(zhou)準直(zhi)儀，寬(kuan)帶光源，中(zhong)溫黑體，電動(dong)轉輪，一組目(mu)標，帶通濾波器(qi)，PC，圖(tu)像(xiang)(xiang)(xiang)采集卡和(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)軟件(jian)組成(cheng)。