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Chromatis色散(san)測(ce)(ce)(ce)量系統可(ke)表征用于飛秒脈沖(chong)激光器的反射和透射光學(xue)組件的群延遲色散(san)(GDD)特性。超快脈沖(chong)在(zai)通過光學(xue)系統傳播時會變寬；了解每個光學(xue)元件引起的GDD并適當補償失真，可(ke)以恢復(fu)短脈沖(chong)寬度。為了獲得高度準確和可(ke)靠的結(jie)果，Chromatis使用時域(yu)白光干(gan)涉儀(WLI)來測(ce)(ce)(ce)量GDD。該(gai)色散(san)測(ce)(ce)(ce)量系統包含(han)軟(ruan)件，可(ke)指導用戶進行光束對準(條紋優化(hua))、自動找到零延時位置(zhi)(條紋對比max.)并快速測(ce)(ce)(ce)量色散(san)。
Chromatis色散測量(liang)系統具有光纖耦合的穩定鹵素光源，其有效(xiao)波(bo)長(chang)范圍(wei)(wei)為(wei)500至2100 nm。該(gai)寬(kuan)帶(dai)光源可(ke)表征為(wei)用(yong)于鈦藍寶石、摻鐿光纖和摻鉺光纖激(ji)光器(qi)的超快光學元件。由于干涉圖(tu)是(shi)在時(shi)域中記錄，因此可(ke)以使(shi)用(yong)單個光電(dian)二(er)極(ji)管探(tan)測器(qi)(而不是(shi)光譜儀)進(jin)行測量(liang)，并且內(nei)置的HeNe參考激(ji)光器(qi)可(ke)對(dui)波(bo)長(chang)軸進(jin)行校準。該(gai)系統包(bao)括一(yi)個波(bo)長(chang)為(wei)500-1100 nm的硅(gui)光電(dian)二(er)極(ji)管。但是(shi)，可(ke)以很容易地(di)連接InGaAs探(tan)測器(qi)進(jin)行1000-1650 nm波(bo)長(chang)范圍(wei)(wei)內(nei)的測量(liang)。
通常(chang)，低(di)色散光(guang)(guang)學(xue)元(yuan)件僅(jin)需要幾(ji)百(bai)飛秒即可捕獲整個干涉圖，因此使用(yong)(yong)濾光(guang)(guang)片限制入射光(guang)(guang)的波長范圍(wei)常(chang)有助于減少所需的掃(sao)描(miao)范圍(wei)和總體噪(zao)聲。Chromatis色散測量系統具有六個用(yong)(yong)于濾光(guang)(guang)片的插槽，并且包含覆蓋(gai)500-700 nm、600-1000 nm和950-1100 nm波長范圍(wei)的帶通濾光(guang)(guang)片，用(yong)(yong)于與硅光(guang)(guang)電二極(ji)管配合使用(yong)(yong)。由于濾光(guang)(guang)會降低(di)掃(sao)描(miao)的整體強度，因此會降低(di)干擾對比度，而光(guang)(guang)電二極(ji)管具有可變的增益(yi)設(she)置以補償此衰減。
- 用于測量色散的白光干涉儀
- 穩定鹵素光源的寬帶發射
- 可安裝Ø1/2英寸和Ø1英寸的光學元件
- 標準測量模式，包含夾具和參考光學元件
0°反射
0° - 70°透(tou)射
5° - 70°角度反射
- 可選反射鏡對夾具
- 同時測量S偏振和P偏振
- 包含用于波長自校準的HeNe參考激光器
- 包含用于空間對準的紅光和綠光二極管激光器
- 可選兩個用戶可更換的探測器
- 機架式2U柜(3.5英寸面板高度)中包含電子設備
- 由包含的預裝軟件Windows筆記本操作
- InGaAs 檢測器模塊，用于測量至 1650 nm
- 2”光學裝置
- 鏡對夾具
- 用于測量高色散光學器件（例如 AOM 晶體）的硬件
- 范圍擴展到7 或 2.2 微米
確認膜層設計規格
光學元件檢查
質量控制測量
色散測(ce)量系(xi)統（不(bu)包(bao)括光學(xue)和鏡對夾(jia)具(ju)）
快速表征光學組件中的色散
寬帶光譜范圍：500-2100 nm
GDD測量精度：±5 fs2
反射和透射模式
組(zu)成：寬帶(dai)、低色散分束器和兩個延遲(chi)臂
