照(zhao)(zhao)度(du)計(ji)測量原理: 光電(dian)(dian)(dian)(dian)池是把光能直接轉換成電(dian)(dian)(dian)(dian)能的(de)光電(dian)(dian)(dian)(dian)元件(jian)。當光線射到硒(xi)(xi)光電(dian)(dian)(dian)(dian)池表面時，入(ru)(ru)射光透過金(jin)屬薄膜(mo)4到達半導(dao)體硒(xi)(xi)層2和金(jin)屬薄膜(mo)4的(de)分界面上(shang)(shang)，在界面上(shang)(shang)產(chan)生光電(dian)(dian)(dian)(dian)效(xiao)應。產(chan)生電(dian)(dian)(dian)(dian)位(wei)差(cha)的(de)大小與光電(dian)(dian)(dian)(dian)池受光表面上(shang)(shang)的(de)照(zhao)(zhao)度(du)有(you)一定的(de)比例(li)關(guan)系。這時如(ru)果(guo)接上(shang)(shang)外(wai)電(dian)(dian)(dian)(dian)路(lu)，就會有(you)電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)通過，電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)值從(cong)以(yi)勒克(ke)斯（Lx）為刻度(du)的(de)微安(an)表上(shang)(shang)指(zhi)示出(chu)來(lai)。光電(dian)(dian)(dian)(dian)流(liu)的(de)大小取決于入(ru)(ru)射光的(de)強(qiang)弱和回路(lu)中的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)阻(zu)。照(zhao)(zhao)度(du)計(ji)有(you)變檔裝(zhuang)置，因(yin)此可以(yi)測高照(zhao)(zhao)度(du)，也可以(yi)測低(di)照(zhao)(zhao)度(du)。
1、首先打開電源。
2、打開檢(jian)測器蓋子，并(bing)將(jiang)光檢(jian)測器水平放在測量位置。
3、尋找適合測量(liang)檔位。
4、照度(du)計開(kai)始工作，并在顯(xian)(xian)示屏(ping)上顯(xian)(xian)示照度(du)值。
5、顯(xian)示(shi)屏上顯(xian)示(shi)數(shu)(shu)據(ju)不斷(duan)地變動，當顯(xian)示(shi)數(shu)(shu)據(ju)比較穩定時，按(an)下HOLD鍵(jian)（⑧鍵(jian)），鎖(suo)定數(shu)(shu)據(ju)。
6、讀取(qu)并記(ji)錄讀數(shu)器(qi)中(zhong)顯(xian)示的(de)觀(guan)測值。觀(guan)測值等(deng)于讀數(shu)器(qi)中(zhong)顯(xian)示數(shu)字與量程值的(de)乘積。
7、再按一下(xia)鎖(suo)(suo)定開(kai)關，取消讀(du)值鎖(suo)(suo)定功(gong)能。
8、每一次(ci)觀測(ce)時，連續(xu)讀數三次(ci)并記錄。
9、 測量(liang)工作完成(cheng)后，按(an)下電源(yuan)開關(guan)鍵，切斷電源(yuan)。
10、最后我們用完照度計要蓋上光檢測(ce)器蓋子(zi)，并放回盒里。
注(zhu)意事項：
光電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)應(ying)用(yong)直線性(xing)好的硒(Se)光電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi)或硅(Si）光電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi);長時(shi)間工作仍(reng)能保持(chi)良(liang)好的穩定性(xing),且靈(ling)敏度高(gao);高(gao)E時(shi)選用(yong)高(gao)內阻(zu)的光電(dian)(dian)池(chi)(chi)(chi),其靈(ling)敏度低而線性(xing)好,受強光照射不易受損(sun)。
內付有V(λ)修正濾光片,適宜用異色溫(wen)光源的照度,誤(wu)差(cha)小(xiao)。
光(guang)電池(chi)前加一(yi)塊余(yu)弦角度補(bu)償器(乳白玻璃或白色(se)塑料)原因(yin)是入射角大時,光(guang)電池(chi)偏離余(yu)弦定則。
照(zhao)度計應(ying)工作在(zai)室(shi)溫或接近室(shi)溫下(光電池漂移隨溫度改變而發生改變）。
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