Chroma Technology 對精度和創新的承諾延伸到了其計量能力。使用先進的測量設備，我們確保我們的產品符合光學性能的高標準。我們的計量團隊在維護光學濾光片的質量方面發揮著至關重要的作用，可實現高信噪比、高圖像質量以及從生命科學和到天文和科學成像等各種應用所需的精度。
Chroma 計量的關鍵組件
先進的測試解決方案
我們擁有各種先進的計量設備，包括：
- UV-SWIR 分光光度計
- 傅里葉變換紅外 (FTIR) 光譜儀
- 激光干涉儀
- 光學輪廓儀
- 自動準直儀
- 坐標測量機 (CMM)
我們一絲不茍地評估光譜特性、表面質量和圖像質量。Chroma 投資于技術，以確保我們的光學濾光片在整個制造過程中具有高的性能。
定制測試協議
您的獨特應用值得量身定制的解決方案。我們的計量團隊與客戶密切合作，根據具體要求制定定制測試協議。在 Chroma，我們為能夠提供不僅滿足而且超出苛刻行業性能期望的光學濾光片而感到自豪。
質量控制
測量光譜性能
Chroma 采用一套先進的 Cary 分光光度計，覆蓋 200-NIR。我們對每個生產批次進行光譜測量，以確保濾光片符合規格要求。我們為目錄產品指定規格，這是我們通過 25 年的經驗開發的。對于我們的 OEM 客戶和那些要求定制零件的客戶，我們提供指定的光譜性能。
光譜范圍：200-3300nm
動態范圍：100 percent T → OD8
光譜分辨率：解析 1 Å 或更大的光譜特征
測量光學特性
使用 Zygo 干涉儀和定制的自準直儀，Chroma 可以準確測量透射波前畸變 (TWD)、表面平整度（反射波前畸變/2）和平行度（楔形）。
我們根據規格測量尺寸的物理尺寸，并執行常規表面質量檢查，例如 S/D（劃痕/凹陷），并確保發貨的產品沒有任何外觀缺陷。
透射波長分辨率：1/20λ
表面平整度分辨率：1/20λ
平行度：1 角秒
開拓持續改進
在充滿活力的光學領域，保持地位至關重要。Chroma Technology 的計量團隊與我們的各個工程學科密切合作，以提升我們的能力，其中包括探索新的測量技術。這種對持續改進的承諾確保我們的產品始終處于性能和創新的前端。
與 Chroma 一起探索光學世界
Chroma Technology 的計量能力是我們致力于提供光學解決方案的基石。通過先進的設備、精密校準、定制的測試協議、嚴格的質量控制以及對持續改進的堅定承諾，我們確保我們的光學濾光片滿足不同行業的嚴格要求。
